sem掃描電鏡主要用來分析下面這幾種

掃描電鏡與普通顯微鏡相比，分辨率更高、放大倍數(shù)更多、景深大、視野大且成像立體效果更好等諸多優(yōu)點(diǎn)，使其應(yīng)用領(lǐng)域更加廣泛。今天主要帶大家了解sem掃描電鏡主要用來分析什么！

納米材料：納米材料的定義就是指組成材料的顆粒或微晶尺寸在0.1-100nm范圍內(nèi)，因?yàn)?span style="font-size: 16px; color: rgb(255, 0, 0);">掃描電鏡具有很高的分辨率。所以多數(shù)用于觀察納米材料。

材料斷口：sem掃描電鏡所顯示的斷口形貌從深層次，高景深的角度呈現(xiàn)材料斷裂的本質(zhì)，在材料斷裂原因、事故原因等判定帶來很大幫助。

直接觀察原始表面：它能夠直接觀察直徑，或更大尺寸的試樣，對(duì)試樣的形狀沒有任何限制，粗糙表面也能觀察，這便免除了制備樣品的麻煩，而且能真實(shí)觀察試樣本身物質(zhì)成分不同的襯度

觀察厚試樣：用掃描電鏡觀察厚塊試樣更有利，更能得到真實(shí)的試樣表面資料。