共聚焦顯微鏡拍照與普通熒光顯微鏡拍照有什么不同 - 分析行業(yè)新聞
日期:2023-02-19 16:07 瀏覽次數(shù):119
共聚焦顯微鏡用激光做光源,光電倍增管做檢測(cè)器,逐點(diǎn)掃描,對(duì)應(yīng)每個(gè)像素其能量比較高;普通熒光顯微鏡用汞燈作為光源,雖然總功率高,但屬于場(chǎng)照明,對(duì)應(yīng)每個(gè)像素的能量并沒有激光高。 共聚焦利用針孔成像,可以排除焦平面上焦點(diǎn)以外及非焦平面雜散光的影響,因此空間分辨率提高,但因?yàn)槭敲總€(gè)像素每個(gè)像素逐點(diǎn)掃描,采集較慢,一張圖并不是同一時(shí)間采集的,時(shí)間分辨率不高;普通顯微鏡利用CCD成像,拍照取的是樣品的同一時(shí) 間。
聯(lián)系我們
全國(guó)服務(wù)熱線
4001-123-022
公司:微儀光電臺(tái)式掃描電子顯微鏡銷售部
地址:天津市東麗區(qū)華明**產(chǎn)業(yè)區(qū)華興路15號(hào)A座
相關(guān)資訊推薦
- SEM掃描電鏡選擇指南:臺(tái)式掃描電鏡與落地式掃描電鏡對(duì)比分析
- SEM掃描電鏡制樣全攻略:從導(dǎo)電處理到高分辨成像的核心技巧
- SEM掃描電鏡測(cè)樣操作困難嗎?一文解析操作難點(diǎn)與參數(shù)優(yōu)化技巧
- SEM掃描電鏡有哪些成像技巧分享:從樣品制備到高階成像的實(shí)戰(zhàn)攻略
- SEM掃描電鏡的多樣應(yīng)用與細(xì)分領(lǐng)域介紹
- SEM掃描電鏡的測(cè)試模式有幾種?一文解析成像、成分與晶體學(xué)分析全場(chǎng)景
- SEM掃描電鏡制樣難不難?從技術(shù)門檻到實(shí)戰(zhàn)技巧全解析
- SEM掃描電鏡的參數(shù)選擇:從基礎(chǔ)設(shè)置到高階優(yōu)化的全流程指南
- SEM掃描電鏡如何巧妙地消除像散?提升成像質(zhì)量的實(shí)戰(zhàn)指南
- SEM掃描電鏡的常見操作誤區(qū)及規(guī)避策略——深度解析與優(yōu)化指南