你知道用SEM掃描電鏡觀察粉末樣品需要注意什么嗎?

隨著科學技術的不斷發展，越來越多的領域，特別是材料領域需要精確了解各種材料的微觀 形貌和組織結構，采用掃描電鏡對其進行表征具有重要意義。

采用SEM掃描電鏡觀測樣品涉及3方面的因素:

1）掃描電鏡本身分辨率的高低，分辨率越高，觀測到樣品的微觀組織形貌就越清楚。

2）放大倍數與粉末顆粒的尺寸要匹配。對于顆粒尺寸較小的樣品，需放大上千乃至上萬倍才能清晰的觀測出微觀組織，但是對于尺寸較大的樣品只需放大很小的倍數就可以了。

3）樣品的制備也至關重要，它直接影響到拍攝照片的清晰度。

粉末的顆粒形狀、顆粒大小及組成、顆粒表面的微觀形貌組織、內部結構等粉末特性是重要的物理性能"。在生產中，一般只測定粉末顆粒的大小及百分比組成，Z常用的方法有篩分法、顯微鏡法、氣體透過法、氣體吸附法、X射線衍射法和SEM掃描電鏡法等，其中掃描電鏡法對研究粉末的各種復雜結構與性能具有獨特的優勢和特點，尤其是在觀測樣品的顆粒形狀、顆粒大小和顆粒表面的微觀形貌時,既方便又直觀。但是，粉末所具有的特性有時嚴重影響顆粒的觀察和測量。對于超細粒子的材料來說，由于其具有較大的吉布斯自由能，粒子之間有較強的自發聚集趨勢，很容易形成團聚，嚴重影響顆粒的觀測。因此，利用SEM掃描電鏡研究粉末的很重要一步在于制備出既沒有顆粒團聚、又有一定密度，圖像清晰的樣品。

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