掃描電鏡是一種功能強大的分析工具，其利用聚焦得非常細的高能電子束在試樣上掃描，激發出各種物理信息，通過對這些信息的接受、放大和顯示成像，獲得測試試樣表面形貌的觀察。SEM掃描電鏡可以看到以下結構：

表面形貌：掃描電鏡可以直接觀察樣品的表面形貌，呈現出三維立體的表面結構。這對于研究材料的表面粗糙度、顆粒大小、形態等方面的信息非常有用。

元素分析：SEM掃描電鏡通常配備有能譜儀（EDS）等附件，可以對樣品進行元素分析。通過分析樣品表面的元素組成，可以了解材料的成分和化學性質。

晶體結構：掃描電鏡可以觀察樣品的晶體結構，通過分析樣品的衍射花樣和晶格條紋等特征，可以確定材料的晶體類型和結構。

涂層厚度：對于金屬、陶瓷等材料的涂層，SEM掃描電鏡可以用來測量涂層的厚度。通過測量不同位置的涂層厚度，可以評估涂層的均勻性和質量。

斷裂面分析：當材料發生斷裂時，掃描電鏡可以觀察和分析斷裂面的形貌和結構。通過分析斷裂面的特征，可以了解材料的力學性能和斷裂機制。

生物樣品：SEM掃描電鏡也可以用于觀察生物樣品，如細胞、組織、骨骼等，揭示生物結構和功能。

掃描電鏡具有極高的放大倍數和分辨率，可達到納米級別，因此可以觀察到納米顆粒、病毒、細胞器等精細結構。SEM掃描電鏡主要由電子槍、電磁透鏡系統、掃描線圈、樣品室和探測器等部分組成，其工作原理是通過電子束與樣品相互作用產生各種信號，這些信號被探測器接收并轉換為電信號，再經過放大和處理后在顯示器上生成圖像。

總的來說，掃描電鏡在材料科學、生物學、地質學、納米技術、環境科學等領域都有廣泛的應用，為研究人員提供了解材料、生物、地質等領域微觀世界的重要手段。