4001-123-022 
-
SEM掃描電鏡在使用中經常遇見的問題有那些？
掃描電鏡在使用中經常遇到的問題主要包括但不限于以下幾個方面：1. 圖像顯示問題 無圖像顯示：這可能是由于電源未連接正常、計算機連接錯誤、驅動程序未安裝或電子束管電流和電壓設置不正確等原因導致的。圖像模糊：可能由試樣臺和透鏡的灰塵、電子槍聚焦和透鏡設置不當、加速電壓設置不合適或試樣臺不平穩引起。...
2024-07-23
-
SEM掃描電鏡沒有圖像的原因以及解決辦法介紹
掃描電鏡沒有圖像的原因可能涉及多個方面，這些原因與SEM掃描電鏡的圖像生成過程密切相關。掃描電鏡的圖像生成主要依賴于電子束在樣品表面的掃描、電子與樣品的相互作用、信號的接收與轉換、信號的放大與處理，以及*終的圖像顯示。以下是可能導致SEM掃描電鏡沒有圖像的原因及相應的解決辦法：...
2024-07-22
-
SEM掃描電鏡是如何工作的？
掃描電鏡的工作原理主要基于電子與物質的相互作用。以下是SEM掃描電鏡的詳細工作原理：一、基本原理 掃描電鏡利用聚焦電子束在試樣表面逐點掃描成像。試樣可以是塊狀或粉末顆粒，成像信號主要包括二次電子、背散射電子或吸收電子等，其中二次電子是*主要的成像信號。SEM掃描電鏡的工作原理與閉路電視系統相似，逐點逐行掃描，通過收集和處理這些信號來形成反映樣品表面特征的圖像。...
2024-07-19
-
大家用SEM掃描電鏡主要做那些實驗？
掃描電鏡是一種利用高能電子束與樣品相互作用而得到顯微圖像的儀器，其分辨率遠高于傳統光學顯微鏡，可以觀察到更小尺寸的樣品表面細節。在多個領域中，SEM掃描電鏡都有廣泛的應用，并用于執行多種實驗。以下是掃描電鏡主要做的實驗項目：1. 表面形貌觀察 SEM掃描電鏡可以觀察各種材料的表面形貌，如金屬、陶瓷、聚合物、纖維和生物材料等。通過掃描電鏡，可以清晰地看到樣品表面的微小結構和形態特征。...
2024-07-18
-
SEM 掃描電鏡為什么要防震動呢？
掃描電鏡需要防震動的原因主要可以歸納為以下幾點：一、高分辨率要求 SEM掃描電鏡具有極高的分辨率，能夠觀察到樣本表面的微小細節。這種高分辨率成像能力對環境的穩定性有極高的要求。任何來自外部的振動或震動都可能對圖像質量產生負面影響，導致圖像模糊、失真或產生偽影。因此，為了防止這些振動對成像質量的干擾，掃描電鏡需要采取防震動措施。...
2024-07-17
-
你知道定期怎么保養SEM掃描電鏡嗎？
定期保養掃描電鏡是確保其正常運行、延長使用壽命以及維持高精度和準確性的重要措施。以下是一些關鍵的保養步驟和注意事項：一、定期清洗 清洗頻率：清洗的頻率取決于一系列因素，包括使用時間、樣品種類、加速電壓及電子束流等。通常，油擴散泵真空系統每三個月需徹底清洗一次，而渦輪分子泵真空系統每年徹底清洗一次。清洗部位：電子光學鏡筒的某些部位（如電子槍、電子透鏡、物鏡光闌等）可能會觀察到不同程度的污染跡象，這些部位需要拆卸并清洗。同時，每次更換燈絲時，柵帽、柵帽光闌固定圈也要清洗。...
2024-07-16
-
定期保養SEM掃描電鏡有哪些好處?
定期保養掃描電鏡具有多重好處，這些好處直接關系到設備的性能、使用壽命以及實驗結果的準確性和可靠性。以下是一些具體的好處：1. 保持設備性能穩定 清潔度提升：定期清洗各個部件，如使用專門的清洗劑和工具，可以避免使用有機溶劑和酸堿性強的清潔劑，從而保持設備的清潔度和穩定性。這有助于減少因灰塵和污染物積累而導致的性能下降。...
2024-07-15
-
SEM掃描電鏡的測試圖怎么看？
SEM（掃描電子顯微鏡）掃描電鏡的測試圖主要包括二次電子像（SEI）和背散射電子像（BEI），這兩種圖像各有其特點和觀察重點。以下是如何查看SEM掃描電鏡測試圖的方法：一、圖像基礎認知 圖像類型：SEM測試圖主要為灰度圖像，通過不同灰度級別來展示樣品表面的微觀形貌或元素分布。放大倍數：SEM圖像的放大倍數可以根據需要調整，從低倍到高倍，以便觀察不同尺度的細節。...
2024-07-12
-
SEM掃描電鏡為什么是單色的？
掃描電鏡之所以是單色的，主要原因在于其成像原理和所使用的信號類型。以下是對此問題的詳細解答：成像原理 SEM掃描電鏡利用聚焦的高能電子束作為“光源”，對樣品表面進行逐點掃描。當電子束與樣品相互作用時，會產生多種信號，包括二次電子、背散射電子、特征X射線等。其中，二次電子是*主要的成像信號，因為它們對樣品表面的形貌非常敏感。...
2024-07-11
-
SEM掃描電鏡的微生物樣品制備方法介紹
掃描電鏡的微生物樣品制備方法是一個復雜但精細的過程，它確保了微生物樣品在電鏡觀察下的清晰度和準確性。以下是一個詳細的微生物樣品制備方法介紹：一、取樣 目的：獲取具有代表性的微生物樣品。操作：使用無菌工具（如無菌剪刀或鑷子）從特定環境（如陽極表面、培養基等）中取樣。取樣時應注意避免污染，保持樣品的原始狀態。...
2024-07-10
-
SEM掃描電鏡拍樣品截面時有那些需要注意的？
在使用掃描電鏡拍攝樣品截面時，需要注意以下幾個方面以確保獲得高質量的圖像和數據：一、樣品制備 樣品類型與制樣方法：對于脆性薄片如硅片、玻璃鍍膜片等，可直接掰斷或敲斷以獲取截面。...
2024-07-09
-
sem掃描電鏡怎樣分析材料結構
掃描電鏡在分析材料結構方面發揮著重要作用，其通過高分辨率成像和組成分析，為材料科學研究提供了有力的工具。以下是SEM掃描電鏡如何分析材料結構的具體步驟和原理：一、掃描電鏡的基本結構 SEM掃描電鏡主要由以下幾個部分組成：電子光學系統：包括電子槍、聚光鏡、物鏡和掃描線圈等。電子槍產生高能電子束，經過聚光鏡和物鏡的聚焦和縮小，形成微細電子束。掃描線圈則負責驅動電子束在樣品表面按一定時間和空間順序進行掃描。信號收集處理系統：負責收集由電子束與樣品相互作用產生的各種信號，如二次電子、背散射電子等。這些信號經過處理后可以轉換為反映樣品表面形貌和組成的信息。...
2024-07-08
津公網安備12011002023086號
首頁
產品
案例
聯系